Étude des interfaces et des couches minces par réflectivité des rayons X et Neutron. (Optique Pour l'Ingénieur : Optique des rayons X)
Brotons Guillaume
Ce cours est consacré à la présentation des théories utilisées pour calculer la réflectivité spéculaire d'une interface, d'un film mince ou d'une multi-couche plus complexe. Nous soulignons avec un soin particulier les hypothèses qui permettent d'appliquer un formalisme développé historiquement pour l'optique visible aux faisceaux de rayons-x et de neutrons qui permettent de sonder des échelles structurales plus petites avec des contrastes et des transparences très différents.Description
Université productrice
Le Mans Université
Discipline
Optique - Electromagnétisme, optique classique, optique ondulatoire
Mots clés
interface, rayon X, neutron, OPI, Optique Pour l'Ingénieur, réflectivité, couche mince, Fresnel, Maxwell
Langues
Français
Droits attachés à la ressource
Licence Creative Commons CC BY (Attribution)
Indication pédagogique
Niveaux
Enseignement supérieur
Type(s) pédagogique(s)
Cours / Présentation
Type(s) documentaire(s)
Texte, Ressource interactive
Durée d'apprentissage
7h00m00s