Étude des interfaces et des couches minces par réflectivité des rayons X et Neutron. (Optique Pour l'Ingénieur : Optique des rayons X)

Brotons Guillaume

Ce cours est consacré à la présentation des théories utilisées pour calculer la réflectivité spéculaire d'une interface, d'un film mince ou d'une multi-couche plus complexe. Nous soulignons avec un soin particulier les hypothèses qui permettent d'appliquer un formalisme développé historiquement pour l'optique visible aux faisceaux de rayons-x et de neutrons qui permettent de sonder des échelles structurales plus petites avec des contrastes et des transparences très différents.

Description

Université productrice

Le Mans Université

Discipline

Optique - Electromagnétisme, optique classique, optique ondulatoire

Mots clés

interface, rayon X, neutron, OPI, Optique Pour l'Ingénieur, réflectivité, couche mince, Fresnel, Maxwell

Langues

Français

Droits attachés à la ressource

Licence Creative Commons CC BY (Attribution)

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Indication pédagogique

Niveaux

Enseignement supérieur

Type(s) pédagogique(s)

Cours / Présentation

Type(s) documentaire(s)

Texte, Ressource interactive

Durée d'apprentissage

7h00m00s